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超g分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000

简要描述:1.采用*异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野quan貌图到表面微细结构等多种检测信号。新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更*面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000*多可同时显示和保存

  • 产品型号:SU7000
  • 厂商性质:
  • 更新时间:2022-9-28
  • 访  问  量:466
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详细介绍

1.采用*异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野quan貌图到表面微细结构等多种检测信号。新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更*面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000*多可同时显示和保存

1.采用*异的成像技术
SU7000可以迅速获取从大视野quan貌图到表面微细结构等多种检测信号。新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更*面的样品信息。
2.采用多通道成像技术
随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000*多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的*大化。
3.支持不同形状样品、多种观察方法
1.大型样品观察;2.低真空观察;3.超低温观察;4.实时观察
等所需的样品仓和真空系统都shi分完备,观察方法也是yi应俱quam。

4.支持微纳解析
采用肖特基发射电子枪,*大束流可达到200 nA,适用于各种微纳解析。样品仓形状和接口设置支持EDX分析、EBSD、阴极荧光分析等,接口设备可通过选配附件满足各种特s需求。
成像能力
追求信息*大化的检测系统

随着用户对样品数据的需求更加多元化,对检测系统在短时间内捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的检测系统可以在不改变WD等条件的前提下,更*效地获取形貌、成分、晶体学以及发光等信息。真正实现了更快速、更*面的信息收集。

 

同一条件观察
样品:包裹有机物的金属棒

通过UD、MD、LD探测器同时采集信号的应用实例 (加速电压:1 kV)

 

通过UD、MD、LD探测器可以同时采集信号,UD可获取表面微细形状信息,MD可获取表面有机物包覆状态信息,LD可获取整体凹凸形貌信息。在同一个条件下,实现了获取信息的*大化。
采用可多通道显示的GUI设计
优化信号显示功能

成像单元在信号显示上也作了*新升级。用户可根据观察需求,选择不同的视场角和通道数。
单屏*多可同时显示4通道信号。
导航功能(SEM MAP)可以轻松捕捉到显示样品仓内信息的CCD相机图像和相机拍摄到的样品图像,快速显示目标图像。
使用双屏显示时,可在一个显示屏上双通道显示1,280×960像素的图像,另一个显示屏专门用来显示信号,*多可同时显示6通道信号。

高自由度的界面布局
使用单屏时,可以单通道、双通道、四通道显示样品信息,也可以显示CCD相机图像、样品台图像/SEM MAP图像等。而且操作画面上的工具栏可以任意移动、添加和删除。

 

支持双屏显示
1st显示屏专门用来显示图像,2nd显示屏用来显示操作面板画面。上图左图(1st显示屏)是通过SU7000观察到的钢铁中非金属夹杂物的图片。图中清晰呈现出
UD、LD、UVD、MD、PD-BSED5个探测器捕捉到的图像以及SEM MAP图。右图(2nd显示屏)将操作面板菜单和图像历史记录窗口在同一个画面中显示,界面
布局清晰明了。在实现实时监控图像的同时,操作性能也得到了进一步提升。
可扩展观察和分析方法
样品仓和马达台
 

 

样品仓外观标配18个附件接口                               马达台外观XY轴可移动距离为135×100 mm

样品仓可搭载*大直径为φ 200 mm;*高80 mm的样品。大开仓设计,标配18个附件接口。样品台可搭载XY轴*大移动距离为135×100 mm,*重2 kg的样品。搭载大型样品和功能样品台*全不成问题。

支持动态观察的检测系统

SU7000可用于环境改变的动态观察。低真空观察时,可以选用PD-BSED(背散射电子探测器)、UVD、MD等各种探测器(**)。 

低真空环境的探测器选择

左图为通过MD(背散射电子),右图为通过UVD(二次电子)探测器观察到的金属氧化物纤维的情况。两张图分别清晰地呈现出氧化物的分散状态和纤维的堆积情况。

PD-BSED:响应速度提高

左图是以一般的响应速度,约每两秒扫描一次得到的图像;右图抑制了图像的漂移,使得整体的画质得到了大幅提升。随着响应速度的提高,更适用于In-Situ观察。


技术参数


项目内容
图像分辨率二次电子分辨率0.8 nm/15 kV
0.9 nm/1 kV
放大倍率20~2,000,000 x
电子枪发射体ZrO/W热场发射(肖特基热场发射)
加速电压0.1~30 kV (步进:0.01 kV)
束流*大200 nA
探测器标准探测器UD (上探测器)
MD (中探测器)
LD (下探测器)
选配探测器*1PD-BSED (半导体式背散射电子探测器)
UVD(高灵敏度低真空探测器 )
低真空模式*1样品仓压力范围5~300 Pa
可使用探测器PD-BSED, UVD, UD, MD, LD
马达台马达台控制5轴马达驱动
移动范围X0~135 mm
Y0~100 mm
Z(WD)1.5~40 mm
T(倾斜角)-5~70°
R(旋转角)360°
样品尺寸*大直径:φ200 mm, *大高度:80 mm
显示器*123英寸LCD (1,920×1,080), 支持双屏
图像显示模式全屏显示模式1,280×960像素显示
单屏显示模式800×600像素显示
双屏显示模式800×600像素显示、1,280×960像素显示 *2
四屏显示模式640×480像素显示
六屏显示模式*2640×480像素显示 *2
图像数据保存保存图像尺寸640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680
选配附件能谱仪(EDX)
X射线波谱仪(WDX)
电子背散射衍射(EBSD)
阴极荧光探测器(CL)
冷冻传输系统
各种功能样品台

*1为选配项。
*2支持双屏显示。

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